介質(zhì)損耗是指玻璃作為電介質(zhì)處在交流電場中,由于交流電場和電介質(zhì)的作用,在單位時間損失的能量,也稱介電損失.一般用tanδ的大小來表示玻璃的介電損耗。
介質(zhì)損耗與玻璃成分的關(guān)系類似于電阻率與成分的關(guān)系。離子的遷移對介質(zhì)損耗有重要影響,
石英玻璃結(jié)構(gòu)網(wǎng)絡堅實,沒有易于遷移的離子,介質(zhì)損耗很低。史蒂文(Stevels)提出了在20℃和頻率1.5MHz下計算tanδ的計算式為。
tanδ=0.0698×(nNaS/ε)×(1-3.9nm/no)
式中:nNa——每100g玻璃中Na+物質(zhì)的量;
nm——每100g玻璃中重金屬離子物質(zhì)的量;
no——每100g玻璃中O2-物質(zhì)的量;
S——O2-離子數(shù)與網(wǎng)絡形成離子數(shù)之比;
ε——介電常數(shù)。
對于玻璃組成(質(zhì)量分數(shù))為:SiO254.3%、PbO35.3%、K2O6.5%、Na2O3.9%,其nNa=0.126, nm=0.298,S=2.32, no=2.098,ε=7.96,利用上式計算出tanδ=11.0×10-4,實測為11.5×10-4。
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